低溫試驗(yàn)

低溫試驗(yàn)

中科檢測(cè)環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗(yàn)設(shè)備，具備低溫試驗(yàn)的等能力，為各類電子制品、化工材料等產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗(yàn)服務(wù)。

低溫試驗(yàn) 試驗(yàn)背景

低溫環(huán)境試驗(yàn)，指的是產(chǎn)品處于低溫環(huán)境時(shí)，溫度對(duì)產(chǎn)品的安全性、完整性和性能所產(chǎn)生的影響。產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。進(jìn)行低溫試驗(yàn)，是為了驗(yàn)證產(chǎn)品在低溫環(huán)境下能否安全、正常地使用。
中科檢測(cè)環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗(yàn)設(shè)備，具備低溫試驗(yàn)的等能力，為各類電子制品、化工材料等產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗(yàn)服務(wù)。

低溫試驗(yàn) 試驗(yàn)范圍

低溫測(cè)試主要用于科研研究、醫(yī)療用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。

低溫試驗(yàn) 試驗(yàn)條件

1、低溫工作試驗(yàn)一般至少為2小時(shí)，貯存為12小時(shí)或24小時(shí)等，測(cè)試時(shí)長(zhǎng)根據(jù)產(chǎn)品實(shí)際運(yùn)用的環(huán)境以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)有明晰的規(guī)定，這個(gè)測(cè)試時(shí)間可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行選擇。
2、低溫工作試驗(yàn)一般比低溫貯存試驗(yàn)的溫度點(diǎn)相對(duì)寬松，工作或啟動(dòng)試驗(yàn)屬于要通電進(jìn)行性能測(cè)試，相對(duì)嚴(yán)苛。
3、低溫環(huán)境試驗(yàn)屬于極限應(yīng)力的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)測(cè)試類型，在進(jìn)行試驗(yàn)前，需要明確了解用戶方以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于產(chǎn)品的低溫實(shí)驗(yàn)要求。

低溫試驗(yàn) 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分：總則
GB/T 2422電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)
GB/T 2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
GB/T 2424.7電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和試驗(yàn)B（帶負(fù)載）用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量
IEC60721（所有部分）環(huán)境條件分級(jí)
GB/T 2951.14-2008 電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法 第14部分：通用試驗(yàn)方法—低溫試驗(yàn)
IEC 60512-11-10：2002 電子設(shè)備用連接器 試驗(yàn)和測(cè)量 第11-10部分：氣候試驗(yàn) 試驗(yàn)11j：低溫
IEC 61300-2-17：2010 光纖連接器和無(wú)源器件 基本試驗(yàn)和測(cè)量程序 第2-17部分：低溫試驗(yàn)
IEC 60068-2-1：2007 環(huán)境試驗(yàn)第2-1部分：試驗(yàn)A：低溫

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